Semicon China 2017半導體展已完滿落幕

優(yōu)尼康科技有限公司參加SEMICON CHINA 2017半導體展已于2017年3月16日在上海博覽中心完滿落幕。此次展會上我司現(xiàn)場展示了多臺美國Filmterics 新型光學薄膜測量設備，包括新型號3D掃描輪廓儀系統(tǒng)Profilm3D，測量厚膜系列F1310，測量薄膜F3-UV，半自動圓晶測量系統(tǒng)F50， F40等多款膜厚測試設備。此次展會取得相當成功，展會期間，除了吸引了不少行業(yè)人士前來現(xiàn)場相互交流指導， 也吸引合作伙伴的目光和青睞，我們現(xiàn)場也給客戶操作演示講解，并獲得現(xiàn)場交流人士一致好評。

在未來的發(fā)展路上，我司會全力以赴，將我們經(jīng)營理念“真誠，專注，信賴”服務于大家。

期待2018年半導體展與各界人士再度相會！

火爆的人氣

展示的機臺有profilm 3D, F50, F40, F3, F20等

優(yōu)尼康大合影